Zobrazeno 1 - 10
of 869
pro vyhledávání: '"Van Der Giet M"'
Publikováno v:
Open Access Journal of Clinical Trials, Vol 2014, Iss default, Pp 17-27 (2014)
Markus van der Giet,1 Josep M Cruzado,2 Johan W de Fijter,3 Hallvard Holdaas,4 Zailong Wang,5 Antonio Speziale,6 Guido Junge61Department of Nephrology, Campus Benjamin Franklin, Charite'-Universitätsmedizin, Berlin, Germany; 2Department of Nephrolog
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2b8a1685bcc547c999fe5ad96db89b0d
Autor:
de Fijter, J.W. *, Holdaas, H., Øyen, O., Sanders, J.-S., Sundar, S., Bemelman, F.J., Sommerer, C., Pascual, J., Avihingsanon, Y., Pongskul, C., Oppenheimer, F., Toselli, L., Russ, G., Wang, Z., Lopez, P., Kochuparampil, J., Cruzado, J.M., van der Giet, M.
Publikováno v:
In American Journal of Transplantation July 2017 17(7):1853-1867
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 2010, Vol. 29, Issue 6, pp. 1542-1551.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/03321641011078616
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 2009, Vol. 28, Issue 4, pp. 804-818.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/03321640910958937