Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Valicu, R."'
Autor:
Evangelou, E.K., Rahman, M.S., Androulidakis, I.I., Dimoulas, A., Mavrou, G., Giannakopoulos, K.P., Anagnostopoulos, D.F., Valicu, R., Borchert, G.L.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2010 518(14):3964-3971
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 2009 483(1):414-417
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
X-ray and neutron reflectometry are used for structural characterization of self-assembled InAs quantum dot stacks on GaAs (1 0 0), grown by molecular beam epitaxy. The macroscopic density profile of uncapped InAs layer is extracted and shows a three
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10561::e34d675bda8ce3bf216a2139c394dc8a
http://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/13659
http://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/13659
Autor:
Evangelou, E.K.1 eevagel@uoi.gr, Rahman, M.S.1, Androulidakis, I.I.1, Dimoulas, A.2, Mavrou, G.2, Giannakopoulos, K.P.2, Anagnostopoulos, D.F.3, Valicu, R.4, Borchert, G.L.4
Publikováno v:
Thin Solid Films. May2010, Vol. 518 Issue 14, p3964-3971. 8p.