Výsledky vyhledávání

Evaluation of Inline High-Intensity Illumination Treatments Against LeTID

Autor: Vahlman, H., Roder, S., Krauß, K., Nekarda, J., Rein, S.

37th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition; 409-413
High-intensity illumination treatments are a versatile method to reduce the performance loss of solar cells due to LeTID since they can be applied at any point of time be

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f818ce77b9d7c1ea8392c10713e0316

Zobrazit plný text záznamu

Verbundforschungsvorhaben: 'Ultra Fast Regeneration' (UFO) : öffentlicher Abschlussbericht : Teilprojekt Fraunhofer ISE 'Entwicklung eines Ultra fast Regeneration Prozesses für Cz- und mc-Silizium-Solarzellen' : Projektlaufzeit: 01.06.2016-29.02.2020

Autor: Nekarda, Jan, Rein, S., Roder, S., Vahlman, H., Nold, S.

Diagramme

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aceb70b66891b3316184766ab6c4e9fc

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Modeling of light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon. II. Comparison of simulations and experiments.

Autor: Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Kwapil, W., Schön, J., Inglese, A., Savin, H.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2017, Vol. 121 Issue 19, p1-11, 11p, 1 Chart, 10 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Modeling of light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon. I. General theory of precipitation under carrier injection.

Autor: Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Kwapil, W., Schön, J., Inglese, A., Savin, H.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2017, Vol. 121 Issue 19, p1-10, 10p, 2 Diagrams, 1 Graph

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Capacitive Effects in High-Efficiency Solar Cells during I-V Curve Measurement: Considerations on Error of Correction and Extraction of Minority Carrier Lifetime

Autor: Vahlman, H., Lipping, J., Hyvärinen, J., Tolvanen, A., Hyvärinen, S.

35th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition; 254-261
High-efficiency solar cells have a high internal capacitance that tends to distort I-V measurements during short voltage sweep times compatible with flash testing. Recent

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b03c74d46cfa62ea057a2e294bde0ba6

Zobrazit plný text záznamu

Modeling of light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon. Pt.I: General theory of precipitation under carrier injection

Autor: Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Kwapil, W., Schön, J., Inglese, A., Savin, H.

Copper contamination causes minority carrier lifetime degradation in p-type silicon bulk under illumination, leading to considerable efficiency losses in affected solar cells. Although the existence of this phenomenon has been known for almost two de

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::dacc1d1d9fc9eca2d895a59c94d00a7e
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/249142

Zobrazit plný text záznamu

Modeling of light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon. Pt.II: Comparison of simulations and experiments

Autor: Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Kwapil, W., Schön, J., Inglese, A., Savin, H.

The presence of copper impurities is known to deteriorate the bulk minority carrier lifetime of silicon. In p-type silicon, the degradation occurs only under carrier injection (e.g., illumination), but the reason for this phenomenon called copper-rel

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::1a73a9d03b1530cf062a8e8a24ef1001
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/249143

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání