Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"VEHEC, Igor"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability May 2018 84:88-94
Publikováno v:
Microelectronics International, 2018, Vol. 35, Issue 3, pp. 153-157.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-12-2017-0071
Publikováno v:
Microelectronics International, 2017, Vol. 34, Issue 3, pp. 127-130.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-11-2016-0083
Publikováno v:
Microelectronics International, 2016, Vol. 33, Issue 3, pp. 130-135.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-03-2016-0029
Publikováno v:
Microelectronics International, 2016, Vol. 33, Issue 3, pp. 136-140.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-03-2016-0028
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The current load and its influence on degradation of Al-1%Si wires bonded onto copper pads is presented in this paper. The current load was chosen to occur the electromigration phenomenon during ageing. Our attention was paid to the direction of curr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::0ca9dbb7e61154c7b7db62f00a50b1fd
http://hdl.handle.net/11025/26596
http://hdl.handle.net/11025/26596
Publikováno v:
Acta Electrotechnica & Informatica; 2018, Vol. 18 Issue 4, p11-16, 6p
The work deals with laboratory multifunction exposure equipment for exposure of patterns in printed circuit boards (PCB) technology. It is intended for using in electrotechnologic laboratory for research, development and education. Fixation system is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::d5051281bfc4e75c99b019245d91b53b
http://hdl.handle.net/11025/5903
http://hdl.handle.net/11025/5903
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.