Zobrazeno 1 - 10
of 167
pro vyhledávání: '"V.V. Pai"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Heat and Mass Transfer. 209:124166
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e241fbb82eb7bec898b960f4d8fd21b4
https://doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer.2023.124166
https://doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer.2023.124166
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
G.P. Prashanth, V.V. Pai
Publikováno v:
Journal of the European Academy of Dermatology and Venereology. 26:1105-1108
Background Dermatological manifestations are often encountered in paediatric intensive care units (PICU). Spectrum of dermatological problems that may arise in critically ill children in intensive care unit remains unknown. Objectives The aim of this
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bbe2c7362cf2415d879d79ca85bd4993
https://doi.org/10.1111/j.1468-3083.2011.04221.x
https://doi.org/10.1111/j.1468-3083.2011.04221.x
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
K. KleinOsowski, David J. Lilja, A.J. KleinOsowski, P. Ranganath, V.V. Pai, M. Subramony, V. Rangarajan
Publikováno v:
IEEE Transactions On Nanotechnology. 5:575-586
Advanced molecular nanotechnology devices are predicted to have exceedingly high transient fault rates and large numbers of inherent device defects compared to conventional CMOS devices. We describe and evaluate the Recursive NanoBox Processor Grid a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d92bc1951f00ae295d098031f19d82ab
https://doi.org/10.1109/tnano.2006.880901
https://doi.org/10.1109/tnano.2006.880901