Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Deep levels in GaInNAs grown by molecular beam epitaxy and their concentration reduction with annealing treatment

Autor: V.T. Rangel-Kuoppa, J. Dekker

Publikováno v: Rangel-Kuoppa, V T & Dekker, J 2006, ' Deep levels in GaInNAs grown by molecular beam epitaxy and their concentration reduction with annealing treatment ', Journal of Materials Science and Engineering B, vol. 129, no. 1-3, pp. 222-227 . https://doi.org/10.1016/j.mseb.2006.01.017

Deep-level transient Fourier spectroscopy (DLTFS) technique is used to investigate the thermal-annealing behaviour of at least five deep levels in two samples of Ga0.987In0.013N0.0043As0.9957, one medium doped with Si (2 × 1016 cm−3) and the secon

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::619ee47f7a73665924b1fc8ea94483b6
https://cris.vtt.fi/en/publications/9e8421de-50e6-461a-a312-f4eab196a45e

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.