Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"V.I. Serikh"'
Publikováno v:
2012 IEEE 11th International Conference on Actual Problems of Electronics Instrument Engineering (APEIE).
On the basis of the generalized model of measurement the main equations of measurement of processes in QMS are received.
Autor:
I.G. Kvitkova, V.I. Serikh
Publikováno v:
2010 10th International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering APEIE-2010.
In the report the method and results of calculation of reliability of measuring control for the generalized measuring model considering multiplicate, regular and additive casual errors are presented.
Autor:
V.I. Serikh, Yu.A. Palchun
Publikováno v:
2010 10th International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering APEIE-2010.
In the report questions of the general generalizing approaches to the theory of measurements in SMQ, optimization of requirements to quality of measuring processes, optimization of requirements to accuracy of measurements of parameters of processes a
Publikováno v:
2010 10th International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering APEIE-2010.
On the basis of the general additive model of measurement basic laws of measurement of productivity of the educational processes are received by being latent variables. Mathematical management methods are offered by level of readiness of students.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.