Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"V.I Kondratjev"'
The structure study of thin semiconductor and dielectric layers by synchrotron radiation diffraction
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 448:286-289
The structure of novel materials was studied using diffraction patterns obtained at the “Anomalous scattering” station. The substances to be examined are thin (100–9000 A) single-crystals, polycrystals and amorphous thin layers on various kinds
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0d521eabf544d929d3e7e61f73086fc3
https://doi.org/10.1016/s0168-9002(00)00228-x
https://doi.org/10.1016/s0168-9002(00)00228-x
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.