Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"V. Wedemeier"'
Autor:
M. Fornefett, V. Wedemeier, M. Schroeder, A. Ranck, M. Pretorius, C. Kunz, Alexander Moewes, J. Voss
Publikováno v:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 80:329-335
In recent years much progress has been made in the field of spectromicroscopy, the combination of spectroscopy with lateral resolution. This method is applicated increasingly to problems in biology, material and surface science. Different technical a
Autor:
H. Sievers, V. Wedemeier, J. Voss, M. Pretorius, Alexander Moewes, H. Zhang, Alexander Föhlisch, I. Storjohann, C. Kunz, A. Ranck
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments. 66:3513-3519
The first attempt to combine luminescence spectroscopy with scanning soft x‐ray microscopy has been realized in our experiment. A new imaging luminescence spectrometer with a Schwarzschild objective was designed and built with a spectral resolution
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 85:4610-4612
We demonstrate the feasibility of the vacuum ultraviolet analog to visible-light magneto-optical imaging of magnetic structures using the resonantly enhanced transverse magneto-optical Kerr effect at core level thresholds with incident p-polarized ra
Autor:
M. Fornefett, K. Berens von Rautenfeld, M. Schroeder, V. Wedemeier, H. Sievers, A. Ranck, J. Friedrich, M. Pretorius, J. Voss, M. Wachsmuth
Publikováno v:
X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy ISBN: 9783642721083
The scanning soft X-ray microscope at Hasylab uses photoelectrons, luminescence, photo desorbed ions, reflected, scattered and transmitted photons as signals for imaging and spectroscopy. Mirror optics for grazing and normal incidence provides latera
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c712066f148b7d348f2e76bcc82f02e2
https://doi.org/10.1007/978-3-642-72106-9_26
https://doi.org/10.1007/978-3-642-72106-9_26
Autor:
J. Voss, Hendrik Ohldag, D. Knabben, V. Wedemeier, A. Ranck, E. Kisker, I. Rozhko, F. U. Hillebrecht, M. Schroeder, M. Pretorius, D. Spanke, J. Friedrich
Publikováno v:
Physical review / B 55(21), 14133-14135 (1997). doi:10.1103/PhysRevB.55.14133
Physical review / B 55(21), 14133 - 14135 (1997). doi:10.1103/PhysRevB.55.14133
We have studied the transverse magneto-optical Kerr effect of a Fe[(5.7% Si)001] sample and of ultrathin films of Fe evaporated onto Ag(001) in the soft-x-ray regime
We have studied the transverse magneto-optical Kerr effect of a Fe[(5.7% Si)001] sample and of ultrathin films of Fe evaporated onto Ag(001) in the soft-x-ray regime
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4af99135832fd95a3920dc2b8e074da2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.