Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"V. Turines"'
Publikováno v:
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, 2003 IEEEI/SEMI.
As the microelectronic industry is simultaneously shrinking design rules to 0.13 /spl mu/m and below and integrating copper technology, new defectivity challenges appear. The requirements associated with these technology nodes include the efficient i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9188cfc901be1cc88f80fc2ebbce3c83
https://doi.org/10.1109/asmc.2003.1194496
https://doi.org/10.1109/asmc.2003.1194496
Autor:
Jan J. Lerou, V. Turines, Kostantinos Kourtakis, Claude Crouzet, M.J. Ledoux, Patrick L. Mills
The preparation and the characterization of VPO supported on a new SiC support are described. This catalyst provides a very significant gain in maleic anhydride yield by reacting air and butane, because of the control of the surface temperature.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::80e8470fb63bb7daa89cfd331748c574
https://doi.org/10.1016/s0167-2991(00)81060-5
https://doi.org/10.1016/s0167-2991(00)81060-5
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.