Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"V. Talghader"'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 85:4586-4588
This article examines the characterization of buried magnetic interfaces using a relatively new technique, the second-harmonic magneto-optic Kerr effect (SHMOKE), and a more established technique, x-ray reflectivity (XRR). Results are presented on th
Publikováno v:
MRS Proceedings. 614
Consistency of spin-valve stack deposition, both wafer-to-wafer and within a wafer, is key to the manufacturability of GMR heads. For typical GMR heads, film thicknesses are now in the range of 5Å-150Å and process control is becoming a challenge.Th
Autor:
Ghanim A. Al-Jumaily, Hong Wang, Pat J. Ryan, R. Michel, Zhijun Yang, S. Foss-Schroeder, V. Talghader, Mark T. Kief, K. Duxstad
Publikováno v:
IEEE International Magnetics Conference.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.