Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"V. Sivaramakrishan"'
Autor:
V. Sivaramakrishan, P. J. Sebastian
Publikováno v:
Journal of Materials Science. 26:6443-6447
Electrical resistance of CdSe0.8Te0.2 thin films were found to be dependent on various film parameters such as substrate temperature, film thickness, deposition rate and post-deposition heat treatment in different environments. A decrease in film res
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0b1ee1e0fcbb1723588d5188384cc278
https://doi.org/10.1007/bf02387827
https://doi.org/10.1007/bf02387827
Autor:
V. Sivaramakrishan, N. Ganesan
Publikováno v:
IndraStra Global.
The influence of substrate temperature (300 to 460 K) on the electrical resistivity and thermoelectric power of thin films of SnTe and SnTe doped with 10% excess tin are investigated. The observed variation cannot be attributed to the improvement in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b65099798c365133cb7b9f49dfd02a61
https://igi.indrastra.com/items/show/69067
https://igi.indrastra.com/items/show/69067
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.