Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"V. Radisch"'
Autor:
A. Ruhlandt, T. Liese, V. Radisch, S. P. Krüger, M. Osterhoff, K. Giewekemeyer, H. U. Krebs, T. Salditt
Publikováno v:
AIP Advances, Vol 2, Iss 1, Pp 012175-012175-7 (2012)
We have used a combined optical system of a high gain elliptic Kirkpatrick-Baez mirror system (KB) and a multilayer Laue lens (MLL) positioned in the focal plane of the KB for hard x-rays nano-focusing. The two-step focusing scheme is based on a high
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ba53363a70d943519275503a849cb5c1
Publikováno v:
The Review of scientific instruments. 81(6)
Recombination-active extended defects in semiconductors frequently occur at a low density which makes their structural and chemical analysis by transmission electron microscopy (TEM) techniques virtually impossible. Here an approach is described that
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.