Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"V. Nitz"'
Autor:
Metin Tolan, E. Sackmann, V. Nitz, J. Stettner, J.-P. Schlomka, Werner Press, M. Stelzle, O. H. Seeck
Publikováno v:
Physical Review B. 54:5038-5050
Autor:
L. Schwalowsky, Peter Müller-Buschbaum, J.-P. Schlomka, J. Stettner, Werner Press, Metin Tolan, V. Nitz, D. Bahr, O. H. Seeck
Publikováno v:
Physica B: Condensed Matter. 221:1-9
X-ray reflectivity is now a common tool for investigating density profiles of thin films and multilayers in a nondestructive manner. In contrast to the specularly reflected beam the nonspecular diffuse intensity is sensitive to the lateral structure
Publikováno v:
Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik. 57
Autor:
Peter Müller-Buschbaum, Metin Tolan, D. Bahr, Martin Müller, J. Stettner, W. Press, B. Burandt, V. Nitz
Publikováno v:
Physica B: Condensed Matter. 198:42-47
Two activities of our group concerning structures on mesoscopic length scales are presented: (1) CoSi 2 layers buried in Si-wafers have been studied with many scattering geometries; the emphasis is on diffuse scattering from rough interfaces and diff
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.