Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"V. Difilippo"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
J. Hautala, L. P. Allen, W. Brooks, M. Mack, V. Difilippo, D. B. Fenner, E. Degenkolb, C. Santeufemio
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials. 30:829-833
In order to smooth a wide variety of surface material types to within an angstrom of roughness without subsurface damage, a beam energy equivalent to the individual bond energy of the surface atoms would be required. This would ideally preserve the i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::283bb3e47563382b384349485a410525
https://doi.org/10.1007/s11664-001-0066-3
https://doi.org/10.1007/s11664-001-0066-3
Autor:
L. P. Allen, N. Toyoda, V. Difilippo, David B. Fenner, James A. Greer, E. Minami, Jiro Matsuo, H. Katsumata, Isao Yamada, J. Hautala
Publikováno v:
Surface and Coatings Technology. :273-282
Gas cluster ion beam (GCIB) processing has recently been introduced as a commercial tool for processing ‘rough’ surfaces, such as polished substrates or thin films. The physical interaction of a gas cluster ion beam with a surface is strikingly d
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bbba77806a9ab953732d234bcf56fc5c
https://doi.org/10.1016/s0257-8972(00)00876-8
https://doi.org/10.1016/s0257-8972(00)00876-8
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials. 26:847-851
Tensile and short term (24 h) creep tests were performed on Xydar G930, a liquid crystalline polymer (LCP) with 30 wt.% glass filler, at temperatures and stress levels ranging from room temperature to 175°C and 0.3 fraction ultimate tensile strength
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7ff5bcdf2109fec31d9419d70ea6c616
https://doi.org/10.1007/s11664-997-0261-y
https://doi.org/10.1007/s11664-997-0261-y
Autor:
G. Dallas, J. Barton, E. Roehl, C. Santeufemio, Kevin S. Jones, William D. Goodhue, K. Blanchet, V. Difilippo, B. Zide, C. E. Jones, L. P. Allen, Shivashankar Vangala
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
As the demand for mid wavelength infrared (MWIR) focal plane arrays (FPAs) continues to increase, the quality of InSb surfaces becomes more stringent. State-of-the art InSb contains
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7aaf7fd11b57de81b5f00deb4d27bcd1
https://doi.org/10.1117/12.718185
https://doi.org/10.1117/12.718185
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Bombardment of slightly rough, planar surfaces with an energetic gas-cluster ion beam (GCIB) is known to result in a decrease in roughness. We report comparison of measured surface evolution with simulations based on a simple phenomenological model.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c682d5cdcf731a3c3e906e2cbbeda811
https://doi.org/10.1557/proc-647-o5.2
https://doi.org/10.1557/proc-647-o5.2
Autor:
N. Toyoda, A. R. Kirkpatrick, R. P. Torti, James A. Greer, L. P. Allen, David B. Fenner, J. Hautala, V. Difilippo
Publikováno v:
MRS Proceedings. 585
Surface processing of microelectronic materials by bombardment with nanoparticles of condensed gases (i.e., clusters) in the form of an ion beam, makes possible etching and smoothing of those surfaces to very high figures of merit. As this is not pos
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0338cea94cb498b0e0ad15aa86c98164
https://doi.org/10.1557/proc-585-27
https://doi.org/10.1557/proc-585-27