Zobrazeno 1 - 10
of 153
pro vyhledávání: '"V Haerle"'
Publikováno v:
Semiconductor Science and Technology. 22:418-421
Two-inch free-standing GaN wafers were implanted by 100 keV H+2 ions with a dose of 1.3 × 1017 cm−2 at room temperature. The hydrogen implantation induced damage in GaN extends between 230 to 500 nm from the surface as measured by cross-sectional
Autor:
J. M. Calleja, F. Rodriguez, José Luis Rubio, Carlos Tejedor, V. Haerle, F. Scholz, H.P. van der Meulen
Publikováno v:
ResearcherID
The Fermi-edge singularity and shake-up sidebands have been measured in the optical emission spectrum of a modulation doped single quantum well of InGaAs/InP with spatially variable Fermi energy and valence-band mass. Both magnitudes change across th
Publikováno v:
Physical Review B. 56:R12718-R12721
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 72:557-559
The density and temperature dependence of the exciton dephasing time of two hexagonal GaN films on sapphire is measured using degenerate four-wave mixing (DFWM). The residual 4 ps dephasing time at low temperature and density is caused by exciton-imp
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.