Zobrazeno 1 - 10 of 56 pro vyhledávání: '"Utlaut, M."'
1
Akademický článek
Direct Observations of Atomic Diffusion by Scanning Transmission Electron Microscopy
Autor: Isaacson, M., Kopf, D., Utlaut, M., Parker, N. W., Crewe, A. V.
Publikováno v: Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 1977 May 01. 74(5), 1802-1806.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/67112
Zobrazit plný text záznamu
3
Kniha
4 - Focused ion beams for nano-machining and imaging
Autor: Utlaut, M.
Publikováno v: In Nanolithography 2014:116-157
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Fundamental limits to imaging resolution for focused ion beams.
Autor: Orloff, Jon, Swanson, L. W., Utlaut, M.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1996, Vol. 14 Issue 6, p3759-3763, 5p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
A focused ion beam secondary ion mass spectroscopy system.
Autor: Crow, G. A., Christman, Locke, Utlaut, M.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1995, Vol. 13 Issue 6, p2607-2612, 6p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Transverse thermal velocity broadening of focused beams from liquid metal ion sources.
Autor: Ward, J. W., Kubena, R. L., Utlaut, M. W.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1988, Vol. 6 Issue 6, p2090-2094, 5p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Computer simulation of current density profiles in focused ion beams.
Autor: Ward, J. W., Utlaut, M. W., Kubena, R. L.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1987, Vol. 5 Issue 1, p169-174, 6p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Long-lifetime, reliable liquid metal ion sources for boron, arsenic, and phosphorus.
Autor: Clark, W. M., Seliger, R. L., Utlaut, M. W., Bell, A. E., Swanson, L. W., Schwind, G. A., Jergenson, J. B.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics Processing & Phenomena; 1987, Vol. 5 Issue 1, p197-202, 6p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje