Zobrazeno 1 - 10
of 404
pro vyhledávání: '"Uren, M.J"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2019 95:48-51
Morphological and electrical comparison of Ti and Ta based ohmic contacts for AlGaN/GaN-on-SiC HFETs
Autor:
Pooth, A., Bergsten, J., Rorsman, N., Hirshy, H., Perks, R., Tasker, P., Martin, T., Webster, R.F., Cherns, D., Uren, M.J., Kuball, M.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2017 68:2-4
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2015 55(12) Part A:2505-2510
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2014 54(12):2650-2655
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2012 338(1):125-128
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 59(1):95-99