Zobrazeno 1 - 10
of 130
pro vyhledávání: '"Universal serial bus (USB)"'
Publikováno v:
Ain Shams Engineering Journal, Vol 14, Iss 6, Pp 102182- (2023)
The growing development of inter-networking devices and internet-of-things (IoT) are required to make use of all possible energy sources for different types of sensor. Ambient renewable energy resources are needed and received more attention this era
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6bb7ea4be1494be0b449224d07180537
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 8, Pp 69788-69799 (2020)
This paper presents a universal serial bus (USB) transceiver with a serial interface engine (SIE) and an asynchronous first-in first-out (FIFO) queue for packet transformation and data transmission in field-programmable gate array (FPGA)-to-FPGA comm
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/851b0063587a49c49caa2b0faadc9cdb
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In this contribution we present a new compact, plug-and-play, and user-customizable instrument capable of highperformance Time-to-Digital Conversion (TDC). The instrument features two channels capable of signal timestamping with resolution of 250 ps
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::48c04faa8874579d95be8e7e872c8a77
http://hdl.handle.net/11311/1169743
http://hdl.handle.net/11311/1169743
Autor:
Usha Mehta, Dipakkumar Modi
Publikováno v:
International Journal of VLSI Design & Communication Systems. 9:41-50
Time and efforts for functional testing of digital logic is big chunk of overall project cycle in VLSI industry. Progress of functional testing is measured by functional coverage where test-plan defines what needs to be covered, and test-results indi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1239814ad8f68cfc8e73831d415d949f
https://doi.org/10.5121/vlsic.2018.9304
https://doi.org/10.5121/vlsic.2018.9304