Zobrazeno 1 - 10
of 53
pro vyhledávání: '"U. Teschner"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ralf Wunderlich, U. Teschner, René Feder, Carsten Bundesmann, Horst Neumann, Marius Grundmann
Publikováno v:
Thin Solid Films. 589:487-492
Several sets of Ge films were grown by ion beam sputter deposition under systematic variation of ion beam parameters (ion species and ion energy) and geometrical parameters (ion incidence angle and polar emission angle). The films were characterized
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::21613c83b29ebaefb869de3d7ba62161
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.06.017
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.06.017
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hubertus Axer, Alexander Grimm, Otto W. Witte, Frank M. Brunkhorst, U. Teschner, C. Porzelius, J. Zielske, K. Ludwig
Publikováno v:
Clinical Neurophysiology. 125:S62-S63
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2b17276e241468932217bd8ef996b7bd
https://doi.org/10.1016/s1388-2457(14)50211-8
https://doi.org/10.1016/s1388-2457(14)50211-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
U. Teschner
Publikováno v:
physica status solidi (a). 121:641-656
Amorphous LPCVD silicon oxynitride films of different chemical composition are investigated by ellipsometry and infrared spectroscopy. Models for the interpretation of the experimental results are derived on the basis of bonding statistics, effective
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ad5fcc547cb85b5df0e2c5b4a48fafed
https://doi.org/10.1002/pssa.2211210237
https://doi.org/10.1002/pssa.2211210237
Autor:
U. Teschner, K. Hübner
Publikováno v:
physica status solidi (b). 159:917-926
On the basis of the Fresnel theory special IR optical equations for the description of the transmission (T), reflection (R), and attenuated total reflection (ATR) of thin films on semiconductors are derived. It is shown that these relations (quadrati
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::93bfda3ed28e9b0c6634ed6685139196
https://doi.org/10.1002/pssb.2221590239
https://doi.org/10.1002/pssb.2221590239
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.