Zobrazeno 1 - 10
of 1 540
pro vyhledávání: '"U. Stamm"'
Publikováno v:
Welle-Nabe-Verbindungen 2022 ISBN: 9783181024089
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::267926f563056828fc8b1f8497d153e7
https://doi.org/10.51202/9783181024089-209
https://doi.org/10.51202/9783181024089-209
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
E. Rauterberg
Publikováno v:
Zeitschrift für Pflanzenernährung, Düngung Bodenkunde. 57:172-172
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Carigiet, Tamara1 (AUTHOR), Troesch, Larissa Maria1 (AUTHOR) larissa.troesch@phbern.ch
Publikováno v:
Zeitschrift für Pädagogische Psychologie. Jan2025, Vol. 39 Issue 1/2, p111-124. 14p.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics Communications. 92:368-375
Resonators with an internal Kerr-lens for mode locking representing self-focusing effects in the laser rod and an aperture acting analog as a fast saturable absorber are analyzed. The cavity design for optimum nonlinear absorption and the nonlinear c
Publikováno v:
Optics Communications. 91:123-130
A generalization of the theory of passive mode-locking with a fast saturable absorber is presented that accounts for self-phase modulation and group velocity dispersion. The model is appropriate to describe a number of new mode-locking techniques app
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 71:3010-3018
A pump and probe beam technique is demonstrated in conjunction with the optical‐beam‐induced current method of laser scanning microscopy which allows one to measure the dynamics of internal signals in integrated circuits. The time resolution of t
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. 16:521-528
The influence of a pulsed test beam on the OBIC-signal for time-resolved OBIC-measurement at a picosecond time scale on n-MOS inverters is considered. A simple approach of the mechanism of optical switching of a blocked n-MOS inverter is presented.