Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Tuzcuoglu, H."'
Autor:
Belmeguenai, M., Tuzcuoglu, H., Gabor, M. S., Petrisor jr, T., Tuisan, C., Berling, D., Zighem, F., Chérif, S. M.
The correlation between magnetic and structural properties of Co_{2} FeAl (CFA) thin films of different thickness (10 nm
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1403.7566
Autor:
Belmeguenai, M., Tuzcuoglu, H., Gabor, M. S., Petrisor jr, T., Tuisan, C., Zighem, F., Chérif, S. M., Moch, P.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics, 115, 043918 (2014)
10 nm and 50 nm Co$_{2}$FeAl (CFA) thin films have been deposited on MgO(001) and Si(001) substrates by magnetron sputtering and annealed at different temperatures. X-rays diffraction revealed polycrystalline or epitaxial growth (according to the rel
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1401.4397
Autor:
Belmeguenai, M., Tuzcuoglu, H., Gabor, M. S., Petrisor jr, T., Tiusan, C., Berling, D., Zighem, F., Chauveau, T., Chérif, S. M., Moch, P.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 87, 184431 (2013)
Co2FeAl (CFA) thin films with thickness varying from 10 nm to 115 nm have been deposited on MgO(001) substrates by magnetron sputtering and then capped by Ta or Cr layer. X-rays diffraction (XRD) revealed that the cubic $[001]$ CFA axis is normal to
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1305.0714
Autor:
Belmeguenai, M., Tuzcuoglu, H., Zighem, F., Chérif, S-M., Roussigné, Y., Moch, P., Westerholt, K., Bahoui, A. El, Genevois, C., Fnidiki, A.
Publikováno v:
Sensor Letters, 11, 2043 (2013)
We study static and dynamic magnetic properties of Co2MnGe (13 nm)/Al2O3 (3 nm)/Co (13 nm) tunnel magnetic junctions (TMJ), deposited on various single crystalline substrates (a-plane sapphire, MgO(100), Si(111)). The results are compared to the magn
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1301.6563
Autor:
Belmeguenai M., Tuzcuoglu H., Gabor M., Petrisor T., Tiusan C., Zighem F., Chérif S. M., Moch P.
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences, Vol 75, p 02001 (2014)
10 nm and 50 nm thick Co2FeAl (CFA) thin films have been deposited on thermally oxidized Si(001) substrates by magnetron sputtering using a Tantalum cap layer and were then ex-situ annealed at 415°C, 515°C and 615°C during 15 minutes in vacuum. X-
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/608e8f3440004e1b9406c879cab10862
Autor:
Devolder T., Roussigné Y., Chérif S.M., Berling D., Tuzcuoglu H., Belmeguenai M., Westerholt K.
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences, Vol 40, p 18001 (2013)
Magnetic properties of Co2MnSi thin films of 20 nm and 50 nm in thickness grown by radio frequency sputtering on a-plane sapphire substrates have been studied. X-ray diffraction (XRD) revealed that the cubic Co2MnSi axis is normal to the substrate an
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/af6aaf1135874b0f9054c9abb9240c0d
Autor:
Belmeguenai, M.1, Tuzcuoglu, H.1, Berling, D.2, Chérif, S. M.2, Roussigné, Y.1, Devolder, T.3, Westerholt, K.4
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences. 2013, Issue 40, p18001-p.1-18001-p.4. 4p.
Autor:
Belmeguenai, M., Tuzcuoglu, H., Gabor, M. S., Petrisor Jr., T., Tiusan, C., Zighem, F., Chérif, S. M., Moch, P.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 115 Issue 4, p1-7, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.