Výsledky vyhledávání - "Turisini, G."

Akademický článek

Annealing of phosphorus implanted silicon wafers by multiscanning electron beam: Solar cells application.

Autor: Bentini, G. G., Galloni, R., Gabilli, E., Nipoti, R., Olzi, E., Servidori, M., Turisini, G., Zignani, F.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Nov1981, Vol. 52 Issue 11, p6735-6742, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Surface temperature evaluation in multi-scan electron-beam-irradiated silicon by TEM observations and optical pyrometry measurements

Autor: Servidori, M., Vecchi, I., Olzi, E., Turisini, G.

Publikováno v: Journal of Materials Science; January 1982, Vol. 17 Issue: 1 p301-307, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.