Signature analysis for MEMS pseudorandom testing using neural networks

Autor: Kupka, L., Simeu, E., Stratigopoulos, H. -G, Libor Rufer, Mir, S., Tůmová, O.

Publikováno v: 12th IMEKO TC1 & TC7 Joint Symposium on Man Science & Measurement
12th IMEKO TC1 & TC7 Joint Symposium on Man Science & Measurement, Sep 2008, Annecy, France
Scopus-Elsevier

The aim of this work is to develop a low-overhead, low-cost built-in test for Micro Electro Mechanical Systems (MEMS). The proposed method relies on processing the Impulse Response (IR) through trained neural networks, in order to predict a set of ME

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0832e071d3e715a43ff36edc6e243245
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00367175

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.