Zobrazeno 1 - 10 of 91 pro vyhledávání: '"Tsutsu, N."'
1
Akademický článek
Placental histopathological findings and outcomes of babies born with a 5-minute Apgar score of less than seven in a regional hospital in Gqeberha, Eastern Cape.
Autor: Tsutsu, N.1 n.tsutsu@gmail.com, Mabenge, M.1, Mackay, C.1
Publikováno v: Obstetrics & Gynaecology Forum. 2022, Vol. 32 Issue 2, p13-17. 5p.
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Conference
An amorphous Si TFT array with TaOx/SiNx double layered insulator for liquid crystal displays.
Autor: Takeda, E., Kawaguchi, T., Nanno, Y., Tsutsu, N., Tamura, T., Ishihara, S.-i., Nagata, S.
Publikováno v: Conference Record of the 1988 International Display Research Conference; 1988, p155-158, 4p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Evaluation of gate oxide reliability using luminescence method.
Autor: Uraoka, Y., Yoshikawa, H., Tsutsu, N., Akiyama, S.
Publikováno v: Proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures; 1990, p69-74, 6p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Evaluation technique of gate oxide reliability with electrical and optical measurements.
Autor: Uraoka, Y., Tsutsu, N., Morii, T., Nakata, Y., Esaki, H.
Publikováno v: Proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures; 1989, p97-102, 6p
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Life time evaluation of MOSFET in ULSIs using photon emission method.
Autor: Tsutsu, N., Uraoka, Y., Morii, T., Tsuji, K.
Publikováno v: ICMTS 92 Proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures; 1992, p94-99, 6p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje