Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"Tsunomura, Takaaki"'
Autor:
Steven Consiglio, Qingyun Yang, K. Tapily, Saraf Iqbal Rashid, Muthumanickam Sankarapandian, Paul C. Jamison, Tsunomura Takaaki, C. Catano, Robert D. Clark, T. Ando, R. Pujari, Vijay Narayanan, Hisashi Higuchi, Gerrit J. Leusink, Malte J. Rasch, R. Soave, Hongwen Yan, Ernest Y. Wu, Dexin Kong, Aelan Mosden, Peter Biolsi, Youngseok Kim, Robert R. Robison, O. van der Straten, D. Koty, S. McDermott, Soon-Cheon Seo, Hiroyuki Miyazoe, Son Nguyen, A. Gasasira, Nicole Saulnier, Wilfried Haensch, Sebastian Engelmann, C. S. Wajda, Ramachandran Muralidhar, S. DeVries
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 42:759-762
We demonstrate a novel process for building a Resistive RAM (ReRAM) stack which reduces the forming voltage ( $\text{V}_{\textit {form}}$ ) and increases the switching resistance, both characteristics that are important ingredients for the use of ReR
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fe9d72aa9eb14d75aff72c197a0ef723
https://doi.org/10.1109/led.2021.3066181
https://doi.org/10.1109/led.2021.3066181
Autor:
Terada, Kazuo, Sanai, Kazuhiko, Tsuji, Katsuhiro, Tsunomura, Takaaki, Nishida, Akio, Mogami, Tohru
Publikováno v:
In Solid State Electronics March 2012 69:62-66
Autor:
Terada, Kazuo, Chagawa, Tetsuo, Xiang, Jianyu, Tsuji, Katsuhiro, Tsunomura, Takaaki, Nishida, Akio
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2009 53(3):314-319
Autor:
Hisashi Higuchi, Soon-Cheon Seo, Eduard A. Cartier, Kandabara Tapily, Takashi Ando, Dexin Kong, Robert D. Clark, Robert Soave, Steven Consiglio, Gert J. Leusink, Youngseok Kim, Cory Wajda, Tsunomura Takaaki, Paul C. Jamison, Vijay Narayanan, Marinus Hopstaken
Publikováno v:
ECS Meeting Abstracts. :994-994
Neuromorphic computing represents a potential paradigm shift from conventional von Neumann computing architecture and shows promise for achieving massive parallelism and power efficiency for such data-centric tasks as image recognition and language p
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::29f22932cc19e359b962976edf5df9ea
https://doi.org/10.1149/ma2021-0130994mtgabs
https://doi.org/10.1149/ma2021-0130994mtgabs
Autor:
Consiglio, Steven, Higuchi, Hisashi, Ando, Takashi, Jamison, Paul, Seo, Soon-Cheon, Kong, Dexin, Kim, Youngseok, Tapily, Kandabara, Clark, Robert D, Hopstaken, Marinus, Cartier, Eduard, Tsunomura, Takaaki, Wajda, Cory S, Soave, Robert, Narayanan, Vijay, Leusink, Gert J
Publikováno v:
ECS Transactions; May 2021, Vol. 102 Issue: 2 p19-28, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tsuji, Katsuhiro, Terada, Kazuo, Takeda, Ryo, Tsunomura, Takaaki, Nishida, Akio, Mogami, Tohru
Publikováno v:
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 1/ 1/2012, p82-86, 5p
Autor:
Terada, Kazuo, Takeda, Ryo, Tsuji, Katsuhiro, Tsunomura, Takaaki, Nishida, Akio, Mogami, Tohru
Publikováno v:
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 1/ 1/2012, p73-76, 4p