Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"Tsugane, Ken"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Katayama, Ryuichi, Takashima, Yuzuru, Onishi, Yoshito, Seo, Yoshiho, Matsuoka, Masaoki, Serikawa, Shigeru, Tsugane, Ken
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; September 2022, Vol. 12231 Issue: 1 p122310C-122310C-6, 1100797p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 7/18/2022, Vol. 12231, p122310C-122310C-6, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yamada, Yohei, Kadomura, Kazunori, Kawakubo, Masanori, Sugaya, Takahiro, Hirai, Osamu, Tsugane, Ken
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2010, Vol. 1249 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Takahara, Hikari, Tsugane, Ken
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; January 2009, Vol. 145 Issue: 1 p105-108, 4p
Autor:
Hayashi, Hidekazu, Tsugane, Ken, Kagoshima, Yasushi, Koyama, Takahisa, Watanabe, Masaharu, Kozuki, Yasushi
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; April 2005, Vol. 103 Issue: 1 p217-220, 4p
Publikováno v:
1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat No99CH36314); 1999, p467-469, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.