Zobrazeno 1 - 10
of 84
pro vyhledávání: '"Tsuchimoto J"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kitano, H., Abo, S., Mizutani, M., Tsuchimoto, J., Lohner, T., Gyulai, J., Wakaya, F., Takai, M.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B August 2006 249(1-2):246-249
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hayashi, T., Nishida, Y., Sakashita, S., Mizutani, M., Yamanari, S., Higashi, M., Kawahara, T., Inoue, M., Yugami, J., Tsuchimoto, J., Shiga, K., Murata, N., Sayama, H., Yamashita, T., Oda, H., Kuroi, T., Eimori, T., Inoue, Y.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
Yamaguchi, T., Kashihara, K., Okudaira, T., Tsutsumi, T., Maekawa, K., Kosugi, T., Murata, N., Tsuchimoto, J., Shiga, K., Asai, K., Yoneda, M.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
Yugami, J., Inoue, M., Tsujikawa, S., Mizutani, M., Nomura, K., Hayashi, T., Nishida, Y., Shiga, K., Tsuchimoto, J., Ohno, Y., Yoneda, M.
Publikováno v:
2006 8th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology Proceedings; 2006, p396-399, 4p
Autor:
Hayashi, T., Mizutani, M., Inoue, M., Yugami, J., Tsuchimoto, J., Anma, M., Komori, S., Tsukamoto, K., Tsukamoto, Y., Nii, K., Nishida, Y., Sayama, H., Yamashita, T., Oda, H., Eimori, T., Ohji, Y.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p906-909, 4p