Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Tsertov, Anton"'
Data produced by on-chip sensors in modern SoCs contains a large amount of information such as occurring faults, aging status, accumulated radiation dose, performance characteristics, environmental and other operational parameters. Such information p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2308.15917
Publikováno v:
2016 IEEE 19th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS); 2016, p1-6, 6p
Publikováno v:
2015 IEEE 18th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems; 2015, p251-254, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2014 15th Latin American Test Workshop - LATW; 2014, p1-6, 6p
Publikováno v:
10th European Workshop on Microelectronics Education (EWME); 2014, p80-83, 4p
Publikováno v:
Proceedings of the 20th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits & Systems - MIXDES 2013; 2013, p408-413, 6p
Publikováno v:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS); 2016, p177-177, 1p