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pro vyhledávání: '"Trives, Carlos"'
Akademický článek
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Autor:
RIVARD, Camille, Vantelon, Delphine, Trcera, N, Lassalle, B, Roy, D, Lagarde, Pierre, Leclercq, N, Amenc, Laurie, Benlahrech, Samia, Teffahi, Mustapha, Trives, Carlos, Drevon, Jean-Jacques, Plassard, Claude
Publikováno v:
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Jouy en Josas, FRA, 2016-11-02-2016-11-04
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Nov 2016, Jouy en Josas, France. pp.1, 2016
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Nov 2016, Jouy en Josas, France. pp.1, 2016
National audience; La fluorescence X est une technique permettant de déterminer la composition élémentaire d’un échantillon. En travaillant avec un faisceau de rayon X focalisé et en déplaçant l’échantillon par rapport au faisceau, des ca
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6f8f1a1e1312afb16fa7618f7f2eb879
http://prodinra.inra.fr/record/377622
http://prodinra.inra.fr/record/377622
Publikováno v:
7. Journées Scientifiques et Techniques du réseau des microscopistes, Jouy en Josas, FRA, 2016-11-02-2016-11-04
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1582::857799ec5efa999efff230d46486e680
http://prodinra.inra.fr/record/377618
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Autor:
Palomar Trives, Carlos
Publikováno v:
E-Prints Complutense. Archivo Institucional de la UCM
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Universidad Complutense de Madrid
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Universidad Complutense de Madrid
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::bb32926577071db8cfff6a7d3c4d78ee
https://eprints.ucm.es/id/eprint/27603/1/T35448.pdf
https://eprints.ucm.es/id/eprint/27603/1/T35448.pdf
Autor:
Amigo de la Huerga, Ángel, Palomar Trives, Carlos, Franco Peláez, Francisco Javier, López Calle, Isabel, Cervera, María Fe, Hernández Cachero, Antonio, Agapito Serrano, Juan Andrés
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E-Prints Complutense. Archivo Institucional de la UCM
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Universidad Complutense de Madrid
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En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmi
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5c281418d9b723baa4d087ab337826b6
https://eprints.ucm.es/id/eprint/29170/1/SAEEI2013-Amigo-UCM.pdf
https://eprints.ucm.es/id/eprint/29170/1/SAEEI2013-Amigo-UCM.pdf
Autor:
Palomar Trives, Carlos
Publikováno v:
E-Prints Complutense: Archivo Institucional de la UCM
Universidad Complutense de Madrid
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Este proyecto consiste en emular los errores producidos en memorias semiconductoras por la radiación atmosférica mediante un láser pulsado que actúa de modo semejante a un ión. Se realiza un mapa de sensibilidad de la memoria identificando los p
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1014f6e2d204fc27e7458933281f9416
https://eprints.ucm.es/id/eprint/17205/2/Carlos_Palomar_Trives.pdf
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Autor:
Palomar Trives, Carlos, López Calle, Isabel, Franco Peláez, Francisco Javier, González Izquierdo, Jesús, Agapito Serrano, Juan Andrés
Publikováno v:
E-Prints Complutense: Archivo Institucional de la UCM
Universidad Complutense de Madrid
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Laser tests on a power operational amplifier were performed to investigate its sensitivity to single event transients. These tests apparently point out to this device being quite insensitive to single event transients so it would become a good candid
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https://eprints.ucm.es/28934/
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