Zobrazeno 1 - 10
of 1 814
pro vyhledávání: '"Triple modular redundancy"'
Autor:
Aleksa N. Maksimovic, Vojkan R. Nikolic, Dejan V. Vidojevic, Milan D. Randjelovic, Slavisa M. Djukanovic, Dragan M. Randjelovic
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 12, Pp 53785-53804 (2024)
This paper describes an Intrusion Detection System (IDS) which uses several existing known IDS algorithms and Triple Modular Redundancy (TMR) algorithm to make decision about eventual existing attack by majority voting in one constructed ensemble mod
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6238927fd4a74b6c9407009be456727e
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 14, Iss 3, p 1229 (2024)
Integrated circuits suffer severe deterioration due to single-event upsets (SEUs) in irradiated environments. Spin-transfer torque magnetic random-access memory (STT-MRAM) appears to be a promising candidate for next-generation memory as it shows pro
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/414c431ea0f1485bb28fcf8b126329ff
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 10, Pp 20643-20651 (2022)
Error mitigation techniques, such as Triple Modular Redundancy, introduce very large overheads. To alleviate this overhead, approximate techniques can be used. In this work we propose a novel approximate error mitigation technique based on using redu
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0b5f66f2009040ad84b71ad3101b7b81
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Engineering Science and Technology, an International Journal, Vol 23, Iss 2, Pp 289-298 (2020)
Emerging nano-level technologies provide very high device densities that facilitate high performance implementation of more complex applications. However, they also introduce new challenging reliability issues such as appearance of transient faults a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/18dd0b39876b42c88a821880c9ab2374
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S. M. Razavi
Publikováno v:
Iranian Journal of Electrical and Electronic Engineering, Vol 15, Iss 3, Pp 310-320 (2019)
Probabilistic-based methods have been used for designing noise tolerant circuits recently. In these methods, however, there is not any reliability mechanism that is essential for nanometer digital VLSI circuits. In this paper, we propose a novel meth
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/751737ef2a814bf892a7fbff31ce9a9f
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 17634-17643 (2019)
The reliability of a process machine can be significantly enhanced by introducing a fault-tolerant control system in it. Hardware redundancy is an important aspect to enhance fault tolerance capability and is studied in this paper. A novel modified t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ef810144ae23480f9664731cb09e4d00
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.