Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"Transnational patents"'
Autor:
Ulrich Schmoch, Birgit Gehrke
Publikováno v:
Scientometrics 127 (2022), Nr. 1
Scientometrics
Scientometrics
Various concepts for the comparison of countries by patent indicators have been developed for the comparison of countries based on patent indicators. These concepts are generally based on the application of patents in several important markets or the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::abde9893ce2becc01f9743e4934590a5
https://doi.org/10.1007/s11192-021-04193-6
https://doi.org/10.1007/s11192-021-04193-6
Autor:
Schmoch, Ulrich, Gehrke, Birgit
Various concepts for the comparison of countries by patent indicators have been developed for the comparison of countries based on patent indicators. These concepts are generally based on the application of patents in several important markets or the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::282f472d5a141016dd203446fbdda2fb
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/270847
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/270847
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Since 2008, China has become the dominant force in solar cell production in the world. But what about technological development and innovation? This paper contributes to a better understanding of the accumulation process of indigenous innovation capa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b88278e02bcd1a8e736b7455a3886115
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/253974
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/253974
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rainer Frietsch, Ulrich Schmoch
Patent statistics are a frequently used innovation indicator for the description and analysis of technological strengths and weaknesses, both on the macro and the micro level. Patent data has a broad coverage, high reliability, allows a very differen
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d9eb0e0bb2f0aae50aeb645da7880a4c
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/221225
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/221225
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.