Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"Torazawa N"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Isono, S., Satake, T., Hyakushima, T., Taki, K., Sakaida, R., Kishimura, S., Hirao, S., Nomura, K., Torazawa, N., Tsutsue, M., Ueda, T.
Publikováno v:
2013 IEEE International Interconnect Technology Conference - IITC; 2013, p1-3, 3p
Autor:
Torazawa, N., Hinomura, T., Harada, T., Kabe, T., Inagaki, D., Morinaga, Y., Shibata, J., Shigetoshi, T., Hazue, S., Motojima, D., Matsumoto, S., Kishida, T.
Publikováno v:
Interconnect Technology Conference & 2011 Materials for Advanced Metallization (IITC/MAM), 2011 IEEE International; 2011, p1-3, 3p
Autor:
Matsumoto, S., Harada, T., Morinaga, Y., Inagaki, D., Shibata, J., Tashiro, K., Kabe, T., Iwasaki, A., Hirao, S., Tsutsue, M., Nomura, K., Seo, K., Hinomura, T., Torazawa, N., Suzuki, S., Kobayashi, K., Korogi, H., Okamura, H., Kanda, Y., Shigetoshi, T.
Publikováno v:
Interconnect Technology Conference (IITC), 2010 International; 2010, p1-3, 3p
Autor:
Torazawa, N., Hinomura, T., Mori, K., Koyama, Y., Hirao, S., Kobori, E., Korogi, H., Maekawa, K., Tomita, K., Chibahara, H., Suzumura, N., Asai, K., Miyatake, H., Matsumoto, S.
Publikováno v:
2009 IEEE International Interconnect Technology Conference; 2009, p113-115, 3p
Autor:
Harada, T., Ueki, A., Tomita, K., Hashimoto, K., Shibata, J., Okamura, H., Yoshikawa, K., Iseki, T., Higashi, M., Maejima, S., Nomura, K., Goto, K., Shono, T., Muranaka, S., Torazawa, N., Hirao, S., Matsumoto, M., Sasaki, T., Matsumoto, S., Ogawa, S.
Publikováno v:
2007 IEEE International Interconnect Technology Conference; 2007, p141-143, 3p