Zobrazeno 1 - 10
of 46
pro vyhledávání: '"Tom, L.M."'
Publikováno v:
In Solid State Electronics June 2013 84:65-73
Autor:
Šakić, Agata, Nanver, Lis K., Scholtes, Tom L.M., Heerkens, Carel Th.H., Knežević, Tihomir, Veen, Gerard van, Kooijman, Kees, Vogelsang, Patrick
Publikováno v:
In Solid State Electronics November-December 2011 65-66:38-44
Autor:
Bunn, Paul A, Jr, Chan, Daniel C, Earle, Keith, Zhao, Tom L.M, Helfrich, Barbara, Kelly, Karen, Piazza, Gary, Whitehead, Clark M, Pamukcu, Rifat, Thompson, William, Alila, Hector 1
Publikováno v:
In Seminars in Oncology February 2002 29(1) Supplement 4:87-94
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hazen, T.C., Dubinsky, E.A., DeSantis, T.Z., Andersen, G.L., Piceno, Y.M., Singh, N., Jansson, J.K., Probst, A., Borglin, S.E., Fortney, J.L., Stringfellow, W.T., Bill, M., Conrad, M.S., Tom, L.M., Chavarria, K.L., Alusi, T.R., Lamendella, R., Joyner, D.C., Spier, C., Auer, M., Zemla, M.L., Chakraborty, R., Sonnenthal, E.L., D'haeseleer, P., Holman, H.-Y. N., Osman, S., Lu, Z., Nostrand, J.D. Van, Deng, Y., Zhou, J., Mason, O.U.
Publikováno v:
Hazen, T.C.; Dubinsky, E.A.; DeSantis, T.Z.; Andersen, G.L.; Piceno, Y.M.; Singh, N.; et al.(2010). Deep-sea oil plume enriches psychrophilic oil-degrading bacteria. Science, 330(6001). Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/6z5481bn
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::880124517628ff85e35714ddd4f2784e
http://www.escholarship.org/uc/item/6z5481bn
http://www.escholarship.org/uc/item/6z5481bn
Autor:
Šakić, Agata, Jovanović, Vladimir, Maleki, Parastoo, Scholtes, Tom L.M., Milosavljević, Silvana, Nanver, Lis K.
A deposited boron layer is investigated as a diffusion barrier between Al and Si. The doping reaction of diborane B2H6 on Si(100) substrates forms an ultra-shallow p+-doped region and amorphous boron layer, the barrier properties of which are tested
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=57a035e5b1ae::c8f741658eecaee0e9436102e1e0b14d
https://www.bib.irb.hr/484238
https://www.bib.irb.hr/484238
Publikováno v:
ECS Meeting Abstracts. :2623-2623
not Available.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b4828acc916744c46dd20228c7425923
https://doi.org/10.1149/ma2012-02/31/2623
https://doi.org/10.1149/ma2012-02/31/2623
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC); 1/ 1/2012, p145-148, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.