Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Tobin, Willie F."'
The alignment of serial-section electron microscopy (ssEM) images is critical for efforts in neuroscience that seek to reconstruct neuronal circuits. However, each ssEM plane contains densely packed structures that vary from one section to the next,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1707.07833
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tonghui Xu, Xinzhu Yu, Perlik, Andrew J., Tobin, Willie F., Zweig, Jonathan A., Tennant, Kelly, Jones, Theresa, Yi Zuo
Publikováno v:
Nature; 12/17/2009, Vol. 462 Issue 7275, p915-919, 5p, 4 Graphs
