Zobrazeno 1 - 10
of 177
pro vyhledávání: '"Tobin, P.J."'
Autor:
Jiang, Z.X., Kim, K., Lerma, J., Sieloff, D., Tseng, H., Hegde, R.I., Luo, T.Y., Yang, J.Y., Triyoso, D.H., Tobin, P.J.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2006 252(19):7172-7175
Autor:
Tseng, H.-H *, Veteran, J, Tobin, P.J, Mogab, J, Tsui, P.G.Y, Wang, V, Khare, M, Wang, X.W, Ma, T.P, Hobbs, C, Hegde, R, Hartig, M, Kenig, G, Blumenthal, R, Cotton, R, Kaushik, V, Tamagawa, T, Halpern, B.L, Cui, G.J, Schmitt, J.J
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2000 3(3):173-178
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tseng, H.-H., Tobin, P.J., Hebert, E.A., Kalpat, S., Ramon, M.E., Fonseca, L., Jiang, Z.X., Schaeffer, J.K., Hegde, R.I., Triyoso, D.H., Gilmer, D.C., Taylor, W.J., Capasso, C.C., Adetutu, O., Sing, D., Conner, J., Luckowski, E., Chan, B.W., Haggag, A., Backer, S.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p696-699, 4p
Autor:
Hegde, R.I., Triyoso, D.H., Tobin, P.J., Kalpat, S., Ramon, M.E., Tseng, H.-H., Schaeffer, J.K., Luckowski, E., Taylor, W.J., Capasso, C.C., Gilmer, D.C., Moosa, M., Haggag, A., Raymond, M., Roan, D., Nguyen, J., La, L.B., Hebert, E., Cotton, R., Wang, X.-D.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p35-38, 4p
Autor:
Moosa, M., Haggag, A., Liu, N., Kalpat, S., Kuffler, M., Menke, D., Abramowitz, P., Ramon, M.E., Tseng, H.H., Luo, T.Y., Lim, S., Grudowski, P., Jiang, J., Min, B.W., Weintraub, C., Chen, J., Wong, S., Paquette, C., Anderson, G., Tobin, P.J.
Publikováno v:
2005 International Conference on Integrated Circuit Design & Technology, 2005. ICICDT 2005; 2005, p129-133, 5p
Autor:
Tseng, H.-H., Capasso, C.C., Schaeffer, J.K., Hebert, E.A., Tobin, P.J., Gilmer, D.C., Triyoso, D., Ramon, M.E., Kalpat, S., Luckowski, E., Taylor, W.J., Jeon, Y., Adetutu, O., Hegde, R.I., Noble, R., Jahanbani, M., El Chemali, C., White, B.E.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p821-824, 4p
Autor:
Tseng, H.-H., Ramon, M.E., Hebert, L., Tobin, P.J., Triyoso, D., Kalpat, S., Grant, J.M., Jiang, Z.X., Gilmer, D.C., Menke, D., Taylor, W.J., Adetutu, O., White, B.E.
Publikováno v:
2004 International Conference on Integrated Circuit Design & Technology (IEEE Cat. No.04EX866); 2004, p255-259, 5p
Autor:
Samavedam, S.B., La, L.B., Smith, J., Dakshina-Murthy, S., Luckowski, E., Schaeffer, J., Zavala, M., Martin, R., Dhandapani, V., Triyoso, D., Tseng, H.H., Tobin, P.J., Gilmer, D.C., Hobbs, C., Taylor, W.J., Grant, J.M., Hegde, R.I., Mogab, J., Thomas, C., Abramowitz, P.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p433-436, 4p
Autor:
Parrillo, L.C., Cosentino, S.J., Mauntel, R.W., Bergami, B.A., Tobin, P.J., Baker, F.K., Poon, S., Yoshii, Y., Pintchovski, F., Sun, S.W., Liou, F.T., Alvis, J., Kearney, M., Swensor, M.
Publikováno v:
1986 International Electron Devices Meeting; 1986, p244-247, 4p