Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"Titu I. Bajenescu"'
Autor:
A. Lechner, M. Schrödl, R. Weiß, E. Brenner, P. Seifter, W. Kosta, G. Raimann, F. Furtner, D. Kirchner, H. Bühler, B. Nemsic, W. Jerono, G. Horak, R. Messaros, F. Seifert, P. Fey, A. Goßlau, A. Gottwald, W. Gáspár-Ruppert, P. Kreuzgruber, A. L. Scholtz, W. Smutny, P. Koschnick, W. Schulz, R. Schwarze, Peter W. Fröhling, Robert Casari, E. Fugger, P. Spinadel, J. Niwinski, L. Prager, E. Schauer, G. Rigler, K. Moshammer, H. Arnold, W. Pribyl, R. Röhrer, W. A. Halang, K. Barbier, F. Schiestl, C. Blind, H. Kamper, A. Krenn, H. Fleischmann, R. Schlager, L. Sturm, J. Retti, S. Rohringer, H. Schreiner, G. Fleischanderl, W. Höllinger, R. Fasching, G. Stonawski, H. Huber, J. Jaeger, H. Stadlbauer, R. Weissgärber, W. Reczek, H. Terletzki, Titu I. Bajenescu, T. Grechenig, Ch. Heinze, P. Purgathofer, J. Kohl, E. Schoitsch, G. Stöckler, F. Immitzer, W. Kasatschinskij, R. Eier, R. Neumann, F. Buschbeck, E. Riedl-Bratengeyer, D. Hornbachner, G. Güttler, C. Schmitzer, W. Klösch, A. Nedelik, E. Schöberl, W. Tritremmel, E. Schmidt, M. Gröschl, E. Benes, H. Siegmund, G. Thorn, G. F. Nowa
Die Informationstagung'Mikroelektronik'findet im Rahmen der ie (Internationale Fachmesse für industrielle Elektronik) seit dem Jahr 1975 im Abstand von zwei Jahren statt. Die Einzelbeiträge der Tagung 1989 werden in dem vorliegenden Band in übersi
Autor:
Titu I. Bajenescu, Marius I. Bazu
The first detailed studies of electronic components reliability were undertaken to improve the performance of communications and navigational systems used by the American army. The techniques then developed were subsequently refined and applied to eq
Autor:
Marius I. Bazu, Titu I. Bajenescu
Publikováno v:
Reliability of Electronic Components ISBN: 9783642636257
Visible light-emitting diodes LEDs (red, green, yellow, and blue) became indispensable as visual indicators. Combinations of LEDs — in a hybrid or monolithic form — are among the competitors for the lucrative visible alphanumeric display market.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7deab1ada3d2a1e6f761f815426e120b
https://doi.org/10.1007/978-3-642-58505-0_10
https://doi.org/10.1007/978-3-642-58505-0_10
Autor:
Titu I. Bajenescu
Publikováno v:
Mikroelektronik 89 ISBN: 9783211821718
Man macht sich einige Gedanken uber die Ausfalldefinition, Ausfallursachen, Zuverlassigkeitsprufungen, ein kompletter Qualifikationstest, Designtest und Endkontrolle.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::12c9638bd800f6bcae0569457bc880c6
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9073-9_39
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9073-9_39
Autor:
A. Lechner, M. Schrödl, R. Weiß, E. Brenner, P. Seifter, W. Kosta, G. Raimann, F. Furtner, D. Kirchner, H. Bühler, B. Nemsic, W. Jerono, G. Horak, R. Messaros, F. Seifert, P. Fey, A. Goßlau, A. Gottwald, W. Gáspár-Ruppert, P. Kreuzgruber, A. L. Scholtz, W. Smutny, P. Koschnick, W. Schulz, R. Schwarze, Peter W. Fröhling, Robert Casari, E. Fugger, P. Spinadel, J. Niwinski, L. Prager, E. Schauer, G. Rigler, K. Moshammer, H. Arnold, W. Pribyl, R. Röhrer, W. A. Halang, K. Barbier, F. Schiestl, C. Blind, H. Kamper, A. Krenn, H. Fleischmann, R. Schlager, L. Sturm, J. Retti, S. Rohringer, H. Schreiner, G. Fleischanderl, W. Höllinger, R. Fasching, G. Stonawski, H. Huber, J. Jaeger, H. Stadlbauer, R. Weissgärber, W. Reczek, H. Terletzki, Titu I. Bajenescu, T. Grechenig, Ch. Heinze, P. Purgathofer, J. Kohl, E. Schoitsch, G. Stöckler, F. Immitzer, W. Kasatschinskij, R. Eier, R. Neumann, F. Buschbeck, E. Riedl-Bratengeyer, D. Hornbachner, G. Güttler, C. Schmitzer, W. Klösch, A. Nedelik, E. Schöberl, W. Tritremmel, E. Schmidt, M. Gröschl, E. Benes, H. Siegmund, G. Thorn, G. F. Nowack, G. Urban, F. Kohl, H. Kuttner, A. Jachimowicz, F. Olcaytug, O. Tilado, G. Jobst, F. Pittner, E. Mann-Buxbaum, T. Schalkhammer, K. Lübke, H. Scheiber, C. Diskus, H. Thim, M. Heiss, G. Spath, H. Leopold, M. Pacher, G. Winkler, K. Schröcker, M. Holzer, H. Fürst, J. Baier, P. Löw, R. K. Pucher, M. Becker, M. Mokry, K. Leber, F. Bartelt, G. Graber, W. Eder, W. Marschik, K. Geis, J. Newald, M. Thurnher, G. Schlag, H. Garn, P. Megner, Ch. Wenner, G. Hetzendorf, G. Stehno, D. Donhoffer, H. Schuster, K. Lind, W. Nedetzky, Johann Günther, H. Pichler, F. Pavuza, U. Beszedics, G. Doblinger, W. Wokurek
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3cf1c669cd8c1f6da90e12082fa56839
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9073-9
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9073-9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.