Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"Tille, Daniel"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Eggersgluess, Stephan, Tille, Daniel
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::376389d2fff24486734f992620b78841
https://hdl.handle.net/2117/369962
https://hdl.handle.net/2117/369962
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Automotive Microcontrollers (MCUs) are extensively tested to guarantee zero-defect quality. Performance screening is one of the critical factors to ensure that MCUs meet quality requirements. Ring Oscillator (RO) structures are used for this performa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::29f1f4de61cb6a82a3649bdec5433f21
http://hdl.handle.net/2117/372137
http://hdl.handle.net/2117/372137
Autor:
Manich Bou, Salvador, Rodríguez Montañés, Rosa, Bernardi, Paolo, Tille, Daniel, Mir, Salvador, Bosio, Alberto, Arumi Delgado, Daniel, Gómez Pau, Álvaro, Cassano, Luca, Jiao, Hailong, Miclea, Liviu, Sanchez, Ernesto, Savino, Alessandro, Canal Corretger, Ramon, Eggersglüß, Stephan, Fransi, Sergi, Taouil, Mottaqiallah, Calomarde Palomino, Antonio, Weiner, Michael, Michael, Maria K., Sonza Reorda, Matteo, Larsson, Erik, Vatajelu, Elena-Ioana, Stratigopoulos, Haralampos-G., Parisi Baradad, Vicenç, Huang, Junlin, Li, Huawei, Chillarige, Sameer, Kameyama, Shuichi, Carro, Luigi, Su, Fei, Nicolici, Nicola, Huang, Shi-Yu
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::39c523cac21ba9160455215e74597409
http://hdl.handle.net/2117/372188
http://hdl.handle.net/2117/372188
Autor:
Manich Bou, Salvador|||0000-0001-5265-1209, Rodríguez, Rosa, Mir, Salvador, Bernardi, Paolo, Tille, Daniel, Bosio, Alberto
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=RECOLECTA___::d3bb81048a73fcbaec48e4439d092668
http://hdl.handle.net/2117/372187
http://hdl.handle.net/2117/372187
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Due to the rapidly growing size of integrated circuits, there is a need for new algorithms for Automatic Test Pattern Generation (ATPG). While classical algorithms reach their limit, there have been recent advances in algorithms to solve Boolean Sati
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::383711a4c57534af143a25bf392431f8
Publikováno v:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS); 2016, p173-178, 6p
