Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"Thonissen, M."'
Autor:
Rooij, I.A.L.M. van, Zanden, L.F.M. van der, Bongers, E.M., Renkema, K.Y., Wijers, C.H., Thonissen, M., Dokter, E.M., Marcelis, C.L., Blaauw, I. de, Wijnen, M.H.W.A., Hoogerbrugge, P.M., Bökkerink, J.P., Schreuder, M.F., Koster-Kamphuis, L., Cornelissen, E.A., Kapusta, L., Heijst, A.F.J. van, Liem, K.D., Gier, R.P. de, Kuijpers-Jagtman, A.M., Admiraal, R.J., Berge, S.J., Biezen, J.J. van der, Verdonck, A., Poorten, V. Van der, Hens, G., Roosenboom, J., Lilien, M.R., Jong, T.P. de, Broens, P., Wijnen, R., Brooks, A., Franke, B., Brunner, H.G., Carels, C.E., Knoers, N.V.A.M., Feitz, W.F., Roeleveld, N.
Publikováno v:
Birth defects research. Part A, Clinical and molecular teratology, 106(8), 675-684. Wiley-Liss Inc.
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675-684. Wiley-Liss Inc.
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106, 675-84
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675–684. Wiley-Liss Inc.
Birth Defects Research. Part A: Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675-684. Wiley-Blackwell
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106, 8, pp. 675-84
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675-684. Wiley-Liss Inc.
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106, 675-84
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675–684. Wiley-Liss Inc.
Birth Defects Research. Part A: Clinical and Molecular Teratology, 106(8), 675-684. Wiley-Blackwell
Birth Defects Research Part A-Clinical and Molecular Teratology, 106, 8, pp. 675-84
Contains fulltext : 167851.pdf (Publisher’s version ) (Open Access) BACKGROUND: Research regarding the etiology of birth defects and childhood cancer is essential to develop preventive measures, but often requires large study populations. Therefore
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::d04a73c261673760d5a67382f3d986fa
https://pure.amc.nl/en/publications/agora-a-data-and-biobank-for-birth-defects-and-childhood-cancer(2c70d81a-5e39-4882-80eb-a5b68a0c4a12).html
https://pure.amc.nl/en/publications/agora-a-data-and-biobank-for-birth-defects-and-childhood-cancer(2c70d81a-5e39-4882-80eb-a5b68a0c4a12).html
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Amorphous silicon (a-Si:H) and porous silicon (PS) allow the realization of novel optoelectronic devices based on silicon. Both in common is the low cost fabrication process and the integration possibility with silicon technology. Whereas the optoele
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2294::301bc1d8786669c4be6e393bd846527c
https://pub.uni-bielefeld.de/record/2351939
https://pub.uni-bielefeld.de/record/2351939
Publikováno v:
Het Tandheelkundig Jaar 2014; 2014, p19-30, 12p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kruiger, M., Berger, M.G., Marso, M., Thonissen, M., Hilbrich, S., Theib, W., Loo, R., Eickhoff, Th., Reetz, W., Grosse, P., Luth, H.
Publikováno v:
ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference; 1996, p891-894, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Arrand, H.F., Benson, T.M., Sewell, P., Loni, A., Bozeat, R.J., Arens-Fischer, R., Kruger, M., Thonissen, M., Luth, H.
Publikováno v:
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics; 1998, Vol. 4 Issue 6, p975-982, 8p