Zobrazeno 1 - 10
of 78
pro vyhledávání: '"Tholander, C."'
Autor:
Alling, B., Steneteg, P., Tholander, C., Tansnádi, F., Petrov, I., Greene, J. E., Hultman, L.
Publikováno v:
Physical Review B, 85, 245422 (2012)
We use metastable NaCl-structure Ti0.5Al0.5N alloys to probe effects of configurational disorder on adatom surface diffusion dynamics which control phase stability and nanostructural evolution during film growth. First-principles calculations were em
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1202.5645
Autor:
Tholander, C., Birch, J., Tasnádi, F., Hultman, L., Palisaitis, J., Persson, P.O.Å., Jensen, J., Sandström, P., Alling, B., Žukauskaitė, A.
Publikováno v:
In Acta Materialia 15 February 2016 105:199-206
Publikováno v:
In Surface Science December 2014 630:28-40
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2016, Vol. 120 Issue 22, p225102-1-225102-6, 6p, 2 Diagrams, 4 Charts
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Enhancing Ultrasonic Echo Response of AlN Thin Film Transducer Deposited by RF Magnetron Sputtering.
Autor:
Wang, Fengqi1 (AUTHOR) wangle_17@126.com, Ye, Qinyan1 (AUTHOR) yeqinyan@foxmail.com, Luo, Kun1 (AUTHOR), He, Xulin1 (AUTHOR), Ran, Xiaolong1 (AUTHOR), Zheng, Xingping1 (AUTHOR), Liao, Cheng1 (AUTHOR) yeqinyan@foxmail.com
Publikováno v:
Sensors (14248220). Sep2024, Vol. 24 Issue 17, p5820. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Almotiri, R. A.1 (AUTHOR), Qasrawi, A. F.2,3 (AUTHOR) atef.qasrawi@aaup.edu
Publikováno v:
Optical & Quantum Electronics. May2023, Vol. 55 Issue 5, p1-15. 15p.