Zobrazeno 1 - 10 of 31 pro vyhledávání: '"Thiesen, Peter H."'
1
Report
Imaging ellipsometry of graphene
Autor: Wurstbauer, Ulrich, Röling, Christian, Wurstbauer, Ursula, Wegscheider, Werner, Vaupel, Matthias, Thiesen, Peter H., Weiss, Dieter
Imaging ellipsometry studies of graphene on SiO2/Si and crystalline GaAs are presented. We demonstrate that imaging ellipsometry is a powerful tool to detect and characterize graphene on any flat substrate. Variable angle spectroscopic ellipsometry i
Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/1008.3206
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Dielectric Tensor of Micro-Textured Organic Thin Films obtained by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry
Autor: Schiek, Manuela, Funke, Sebastian, Duwe, Matthias, Thiesen, Peter H., Balzer, Frank, Hingerl, Kurt
Publikováno v: Schiek, M, Funke, S, Duwe, M, Thiesen, P H, Balzer, F & Hingerl, K 2021, ' Dielectric Tensor of Micro-Textured Organic Thin Films obtained by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry ', Female Physicists Conference 2021, Duisburg, Germany, 08/11/2021-10/11/2021 .
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3062::e93eba2b96e19e03924cb75584fa02d1
https://portal.findresearcher.sdu.dk/da/publications/74c5a534-9d71-4384-96e2-bd85dc991f03
Zobrazit plný text záznamu
6
Imaging Mueller Matrix Ellipsometry of a Microtextured Squaraine Thin Film
Autor: Balzer, Frank, Funke, Sebastian, Duwe, Matthias, Thiesen, Peter H., Hingerl, Kurt, Schiek, Manuela
Publikováno v: Balzer, F, Funke, S, Duwe, M, Thiesen, P H, Hingerl, K & Schiek, M 2021, ' Imaging Mueller Matrix Ellipsometry of a Microtextured Squaraine Thin Film ', 11th Workshop Ellipsometry, Steyr, Austria, 06/09/2021-08/09/2021 .
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3062::14225fc34e7541edf30167b64bb3152b
https://portal.findresearcher.sdu.dk/da/publications/b44a3e56-f8ae-4b92-99e8-42661898e0d9
Zobrazit plný text záznamu
7
The Journal of Physical Chemistry Letters / Determining the Dielectric Tensor of Microtextured Organic Thin Films by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry
Autor: Funke, Sebastian, Duwe, Matthias, Balzer, Frank, Thiesen, Peter H., Hingerl, Kurt, Schiek, Manuela
Polycrystalline textured thin films with distinct pleochroism and birefringence comprising oriented rotational domains of the orthorhombic polymorph of an anilino squaraine with isobutyl side chains (SQIB) are analyzed by imaging Mueller matrix ellip
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3361::5860ce08e836d62887768a206c6a52e6
https://epub.jku.at/doi/10.1021/acs.jpclett.1c00317
Zobrazit plný text záznamu
8
The Dielectric Tensor of Microtextured Squaraine Thin Film obtained by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry
Autor: Schiek, Manuela, Funke, Sebastian, Duwe, Matthias, Thiesen, Peter H., Hingerl, Kurt, Balzer, Frank
Publikováno v: Schiek, M, Funke, S, Duwe, M, Thiesen, P H, Hingerl, K & Balzer, F 2021, ' The Dielectric Tensor of Microtextured Squaraine Thin Film obtained by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry ', Annual Meeting of DPG and DPG-Tagung (DPG Meeting) of the Condensed Matter Section (SKM), 27/09/2021-01/10/2021 .
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3062::209115f0a9da027574a2c28441311bc3
https://www.dpg-verhandlungen.de/year/2021/conference/skm/part/ds/session/4/contribution/23?lang=en
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje