Zobrazeno 1 - 10
of 191
pro vyhledávání: '"Theis, Wolfgang"'
Autor:
Pattison, Alexander, Pedroso, Cassio C. S., Cohen, Bruce E., Ondry, Justin C., Alivisatos, A. Paul, Theis, Wolfgang, Ercius, Peter
Scanning transmission electron microscopy is a common tool used to study the atomic structure of materials. It is an inherently multimodal tool allowing for the simultaneous acquisition of multiple information channels. Despite its versatility, howev
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2303.05543
Autor:
Jo, Hyesung, Wi, Dae Han, Lee, Taegu, Kwon, Yongmin, Jeong, Chaehwa, Lee, Juhyeok, Baik, Hionsuck, Pattison, Alexander J., Theis, Wolfgang, Ophus, Colin, Ercius, Peter, Lee, Yea-Lee, Ryu, Seunghwa, Han, Sang Woo, Yang, Yongsoo
Publikováno v:
Nature Communications volume 13, Article number: 5957 (2022)
Nanomaterials with core-shell architectures are prominent examples of strain-engineered materials, where material properties can be designed by fine-tuning the misfit strain at the interface. Here, we elucidate the full 3D atomic structure of Pd@Pt c
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2207.06677
Autor:
Lin, Alex Y.W., Wu, Zong-Yen, Pattison, Alexander J., Müller, Isaak E., Yoshikuni, Yasuo, Theis, Wolfgang, Ercius, Peter
Publikováno v:
In Biomaterials Advances January 2024 156
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wei, Benben, Tu, Yang, Xia, Yu, Theis, Wolfgang, Zhang, Junxian, Xu, Zian, Chen, Shaoqing, Chen, Jian, Yin, Guoxin, Wang, Hsing-Lin
Publikováno v:
In Chemical Engineering Journal 1 October 2023 473
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Levin, Barnaby D. A., Padgett, Elliot, Chen, Chien-Chun, Scott, M. C., Xu, Rui, Theis, Wolfgang, Jiang, Yi, Yang, Yongsoo, Ophus, Colin, Zhang, Haitao, Ha, Don-Hyung, Wang, Deli, Yu, Yingchao, Abruna, Hector D., Robinson, Richard D., Ercius, Peter, Kourkoutis, Lena F., Miao, Jianwei, Muller, David A., Hovden, Robert
Publikováno v:
Scientific Data 3, Article number: 160041 (2016)
Electron tomography in materials science has flourished with the demand to characterize nanoscale materials in three dimensions (3D). Access to experimental data is vital for developing and validating reconstruction methods that improve resolution an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1606.02938
Autor:
Jo, Hyesung, Wi, Dae Han, Lee, Taegu, Kwon, Yongmin, Jeong, Chaehwa, Lee, Juhyeok, Baik, Hionsuck, Pattison, Alexander J, Theis, Wolfgang, Ophus, Colin, Ercius, Peter, Lee, Yea-Lee, Ryu, Seunghwa, Han, Sang Woo, Yang, Yongsoo
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p