Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"Theeuwen, S.J.C.H."'
Autor:
van der Wel, P.J., Theeuwen, S.J.C.H., Bielen, J.A., Li, Y., van den Heuvel, R.A., Gommans, J.G., van Rijs, F., Bron, P., Peuscher, H.J.F.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(8):1279-1284
Autor:
Nenadović, N., Cuoco, V., Theeuwen, S.J.C.H., Nanver, L.K., Schellevis, H., Spierings, G., Jos, H.F.F., Slotboom, J.W.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(3):541-550
Autor:
Alavi, M.S., van Rijs, F., Marchetti, M., Squillante, M., Tao Zhang, Theeuwen, S.J.C.H., Volokhine, Y., Jos, H.F.F., Heijden, M.P.v.d., Acar, M., de Vreede, L.C.N.
Publikováno v:
Microwave Symposium Digest (MTT), 2011 IEEE MTT-S International; 2011, p1-4, 4p
Autor:
Theeuwen, S.J.C.H., Mollee, H.
Publikováno v:
2009 European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC); 2009, p53-56, 4p
Autor:
van Rijs, F., Theeuwen, S.J.C.H.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
van der Wel, P.J., van den Heuvel, R.A., Peuscher, H.J.F., Li, Y., Gommans, J.G., van Rijs, F., Bron, P., Theeuwen, S.J.C.H.
Publikováno v:
Reliability of Compound Semiconductors ROCS Workshop, 2005; 2005, p151-154, 4p
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 1/18/1999, Vol. 74 Issue 3, p422, 3p, 2 Diagrams
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.