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Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFMGUniversidade Federal de Minas GeraisUFMG.
In Contact Mode Atomic Force Microscopy (CM-AFM), a cantilever with a sharp tip on its end is employed to acquire topographic information. Such acquisition is normally made by monitoring the deflection of the cantilever when it is in contact with the
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http://hdl.handle.net/1843/BUOS-9PQHRG
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Repositório Institucional da UFMG
Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron:UFMG
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Esta tese é dividida em duas partes: na primeira, estudamos fotônica integrada e forças óticas em sistemas de guias de onda e, na segunda, estudamos as alterações propositais de um semicondutor 2D visando customizar suas propriedades óticas. P
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::b56cc20bfce050312539ae4007bfb133
