Výsledky vyhledávání - "Thajeel, Khalid M."

Conference

Comparison of the structural characteristics of Al and B company doped ZnO thin films dropped on Si, Si pulsed by laser, and porous silicon.

Autor: Jabbar, Rashid Hashim, Hilal, Israa Hadi, Mutter, Mahdi M., Abdulsattar, Mudar Ahmed, Thajeel, Khalid M.

Publikováno v: AIP Conference Proceedings; 2023, Vol. 2414 Issue 1, p1-6, 6p

Zobrazit plný text záznamu