Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Tester, John T."'
Autor:
Tester, John T.1
Publikováno v:
Proceedings of the ASEE Annual Conference & Exposition. 2015, p1-14. 14p.
Autor:
Tester, John T.
Decreasing the cycle time of panels in the printed circuit card manufacturing process has been a significant research topic over the past decade. The research objective in such literature has been to reduce the placement machine cycle times by findin
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10919/39691
http://scholar.lib.vt.edu/theses/available/etd-100799-164236/
http://scholar.lib.vt.edu/theses/available/etd-100799-164236/
Publikováno v:
Proceedings of the 2017 International Annual Conference of the American Society for Engineering Management; 2021, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Boyun Guo1 boyun.guo@louisiana.edu, Holder, Donald W.2 donald.w.holder@nasa.gov, Tester, John T.3 john.tester@nau.edu
Publikováno v:
AIAA Journal. Dec2005, Vol. 43 Issue 12, p2586-2592. 7p. 2 Diagrams, 4 Charts, 4 Graphs.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings Frontiers in Education. 36th Annual Conference; 2006, p193-202, 10p