Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Test-set compression"'
Autor:
Dimitri Kagaris, Oscar Acevedo
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computers. 65:664-669
In built-in test pattern generation and test set compression, an LFSR is usually employed as the on-chip generator with an arbitrarily selected characteristic polynomial of degree equal, according to a popular rule, to $S_\mathrm{ max}+20$ , where $S
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2541b228c7885c97dc8fdd15549e05df
https://doi.org/10.1109/tc.2015.2428697
https://doi.org/10.1109/tc.2015.2428697
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.