Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Test set compaction"'
Publikováno v:
Microprocessors and Microsystems. 32:254-262
Classical built-in self-test (BIST) approaches are largely based on pseudorandom testing, and using linear feedback shift registers (LFSR) for test set generation and test response compaction. In this paper, we are concentrating on one possible exten
Publikováno v:
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools (DSD 2007).
Autor:
Jau-Shien Chang, Chen-Shang Lin
Publikováno v:
Proceedings First Asian Test Symposium (ATS `92).
Test set compaction for combinational circuits is studied in this paper. Two active compaction methods based on essential faults are developed to reduce a given test set. The special feature is that the given test set will be adaptively renewed to in
Autor:
Dong Ho Lee, Hyun Chul Noh
Publikováno v:
Electronics Letters. 35:182
A new test set compaction method that uses multiple frame vectors to test fully scanned sequential circuits is proposed. The FAN algorithm is extended to generate compact multiple frame test vectors. The proposed method generates the smallest test se
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.