Zobrazeno 1 - 10
of 591
pro vyhledávání: '"Test set compaction"'
Publikováno v:
In Microprocessors and Microsystems 2008 32(5):254-262
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microprocessors and Microsystems. 32:254-262
Classical built-in self-test (BIST) approaches are largely based on pseudorandom testing, and using linear feedback shift registers (LFSR) for test set generation and test response compaction. In this paper, we are concentrating on one possible exten
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7b6d78165ec7f0f6f0c417ded762979d
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2008.03.007
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2008.03.007
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Santiago Remersaro
The objective of manufacturing test is to separate the faulty circuits from the good circuits after they have been manufactured. Three problems encompassed by this task will be mentioned here. First, the reduction of the power consumed during test. T
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6f70ef87b0198e2639583bd4c2c0bbc3
https://doi.org/10.17077/etd.2bph30y6
https://doi.org/10.17077/etd.2bph30y6
Publikováno v:
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools (DSD 2007).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8b13c638e354087c00dd2a7a077a7400
https://doi.org/10.1109/dsd.2007.4341529
https://doi.org/10.1109/dsd.2007.4341529
Autor:
Jau-Shien Chang, Chen-Shang Lin
Publikováno v:
Proceedings First Asian Test Symposium (ATS `92).
Test set compaction for combinational circuits is studied in this paper. Two active compaction methods based on essential faults are developed to reduce a given test set. The special feature is that the given test set will be adaptively renewed to in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fd1caa8d07b66fd8cd156023fdf32a71
https://doi.org/10.1109/ats.1992.224429
https://doi.org/10.1109/ats.1992.224429
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.