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pro vyhledávání: '"Test par signature électromagnétique"'
Autor:
El Belghiti Alaoui, Nabil
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse, 2020. Français
National audience; In production test strategies are currently based on optical inspection (AOI), X-ray inspection (AXI), electrical (ICT) and functional (FT) tests.Due to the multiplication and miniaturization of electrical components, the coexisten
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::4e82b874e82b6bec16f1d90f9d670030
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
Autor:
El Belghiti Alaoui, Nabil
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse, 2020. Français
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. INSA de Toulouse, 2020. Français. ⟨NNT : 2020ISAT0018⟩
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. INSA de Toulouse, 2020. Français. ⟨NNT : 2020ISAT0018⟩
Until today, the production tests are based mainly on optical verification (AOI), X-ray inspection (AXI), electrical (ICT) and functional tests. Faced with the miniaturization of component packages, the high densification and integration of several t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1f01a5c765e10469dbf5aa187b88ce2c
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document